Analysis of waveguide architectures of InGaN/GaN diode lasers by nearfield optical microscopy

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Friede Sebastian
Tomm Jens W.
Kühn Sergei
Hoffmann Veit
Wenzel Hans
Dokumentumtípus: Könyv része
Megjelent: International Society for Optics and Photonics Bellingham (WA) 2017
Sorozat:Proceedings of SPIE
Novel In-Plane Semiconductor Lasers XVI
Tárgyszavak:
doi:10.1117/12.2249563

mtmt:33298452
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/33981
Leíró adatok
Terjedelem/Fizikai jellemzők:7
ISBN:9781510606876; 9781510606883