Near-field microscopy of waveguide architectures of InGaN/GaN diode lasers

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Friede Sebastian
Tomm Jens W.
Kühn Sergei
Hoffmann Veit
Wenzel Hans
Weyers Markus
Dokumentumtípus: Cikk
Megjelent: 2016
Sorozat:SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY 31 No. 11
Tárgyszavak:
doi:10.1088/0268-1242/31/11/115015

mtmt:33298471
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/27978
Leíró adatok
Terjedelem/Fizikai jellemzők:9
ISSN:0268-1242