Reduction of deoxynivalenol (DON) contamination by improved fungicide use in wheat. Part 1. Dependence on epidemic severity and resistance level in small plot tests with artificial inoculation

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Mesterházy Ákos
Varga Mónika
Tóth Beáta
Kótai C.
Bartók Tibor
Véha Antal
Ács Katalin
Vágvölgyi Csaba
Lehoczki-Krsjak Szabolcs
Dokumentumtípus: Cikk
Megjelent: Springer Netherlands 2018
Sorozat:EUROPEAN JOURNAL OF PLANT PATHOLOGY 151 No. 1
doi:10.1007/s10658-017-1350-2

mtmt:3329091
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/13483
Leíró adatok
Terjedelem/Fizikai jellemzők:39-55
ISSN:0929-1873