Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions

Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Csontos János
Tóth Zsolt
Pápa Zsuzsanna
Gábor B.
Füle Miklós Jenő
Gilicze Barnabás
Budai Judit
Dokumentumtípus: Cikk
Megjelent: Elsevier 2017
Sorozat:APPLIED SURFACE SCIENCE 421 No. Part B
doi:10.1016/j.apsusc.2017.03.186

mtmt:3275473
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/12116
LEADER 00913nab a2200265 i 4500
001 publ12116
005 20200210115452.0
008 171018s2017 hu o 0|| zxx d
022 |a 0169-4332 
024 7 |a 10.1016/j.apsusc.2017.03.186  |2 doi 
024 7 |a 3275473  |2 mtmt 
040 |a SZTE Publicatio Repozitórium  |b hun 
041 |a zxx 
100 1 |a Csontos János 
245 1 0 |a Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions  |h [elektronikus dokumentum] /  |c  Csontos János 
260 |a Elsevier  |c 2017 
300 |a 325-330 
490 0 |a APPLIED SURFACE SCIENCE  |v 421 No. Part B 
700 0 1 |a Tóth Zsolt  |e aut 
700 0 1 |a Pápa Zsuzsanna  |e aut 
700 0 1 |a Gábor B.  |e aut 
700 0 1 |a Füle Miklós Jenő  |e aut 
700 0 1 |a Gilicze Barnabás  |e aut 
700 0 1 |a Budai Judit  |e aut 
856 4 0 |u http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/12116/1/3275473.pdf  |z Dokumentum-elérés  

Hasonló tételek