Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions
Elmentve itt :
| Szerzők: | |
|---|---|
| Dokumentumtípus: | Cikk |
| Megjelent: |
Elsevier
2017
|
| Sorozat: | APPLIED SURFACE SCIENCE
421 No. Part B |
| doi: | 10.1016/j.apsusc.2017.03.186 |
| mtmt: | 3275473 |
| Online Access: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/12116 |
| Terjedelem/Fizikai jellemzők: | 325-330 |
|---|---|
| ISSN: | 0169-4332 |