Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain zinc-oxide films
Elmentve itt :
| Szerzők: |
Pápa Z. Budai J. Hanyecz I. Csontos J. Tóth Z. |
|---|---|
| Dokumentumtípus: | Tanítási erőforrás |
| Tárgyszavak: | |
| Online Access: | http://eta.bibl.u-szeged.hu/4299 |
Hasonló tételek
-
Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain size zinc-oxide films
Szerző: Pápa Zsuzsanna, et al.
Megjelent: (2014) -
Spectroscopic ellipsometric investigation of graphene and thin carbon films from the point of view of depolarization effects
Szerző: Pápa Zsuzsanna, et al.
Megjelent: (2017) -
Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces
Szerző: Tóth Z., et al. -
Ellipsometric study of peptide layers - island-like character, depolarization and quasi-absorptione
Szerző: Pápa Zsuzsanna, et al.
Megjelent: (2017) -
Ellipsometric analysis of silicon surfaces textured by ns and sub-ps KrF laser pulses
Szerző: Tóth Zsolt, et al.
Megjelent: (2014)