Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain zinc-oxide films

Pápa Z., Budai J., Hanyecz I., Csontos J., Tóth Z.

Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces

Tóth Z., Hanyecz I., Gárdián A., Budai J., Csontos J., Pápa Z., Füle M.