Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces
Elmentve itt :
Szerzők: |
Tóth Z. Hanyecz I. Gárdián A. Budai J. Csontos J. Pápa Z. Füle M. |
---|---|
Dokumentumtípus: | Tanítási erőforrás |
Tárgyszavak: | |
Online Access: | http://eta.bibl.u-szeged.hu/4298 |
Hasonló tételek
-
Ellipsometric analysis of silicon surfaces textured by ns and sub-ps KrF laser pulses
Szerző: Tóth Zsolt, et al.
Megjelent: (2014) -
Plasma mirrors for short pulse KrF lasers
Szerző: Gilicze Barnabás, et al.
Megjelent: (2016) -
Spectroscopic ellipsometric and Raman spectroscopic investigations of pulsed laser treated glassy carbon surfaces
Szerző: Csontos János, et al.
Megjelent: (2015) -
Nagy intenzitású KrF lézerek működésének optimalizálása
Szerző: Nagy Tamás
Megjelent: (2000) -
Ultrarövid lézerimpulzusok optimális erősítése KrF erősítőkben
Szerző: Almási Gábor
Megjelent: (2000)