|
|
|
|
| LEADER |
00757nnm a2200241 i 4500 |
| 001 |
eta4298 |
| 005 |
20201212135953.0 |
| 008 |
201212suuuu hu o 0|| eng d |
| 040 |
|
|
|a SZTE Elektronikus Tananyag Archívum
|b hun
|
| 041 |
|
|
|a eng
|
| 100 |
1 |
|
|a Tóth Z.
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces
|h [elektronikus dokumentum] /
|c Tóth Z.
|
| 300 |
|
|
|a 1
|
| 516 |
|
|
|a Teaching_resource
|
| 650 |
|
4 |
|a Természettudományok
|
| 650 |
|
4 |
|a Fizikai tudományok
|
| 700 |
0 |
1 |
|a Hanyecz I.
|e aut
|
| 700 |
0 |
1 |
|a Gárdián A.
|e aut
|
| 700 |
0 |
1 |
|a Budai J.
|e aut
|
| 700 |
0 |
1 |
|a Csontos J.
|e aut
|
| 700 |
0 |
1 |
|a Pápa Z.
|e aut
|
| 700 |
0 |
1 |
|a Füle M.
|e aut
|
| 856 |
4 |
0 |
|u https://eta.bibl.u-szeged.hu/4298/1/2010-0012_15_03.pdf
|z Dokumentum-elérés
|