Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition
Elmentve itt :
| Szerzők: |
Égerházi László Smausz Kolumbán Tomi Bari Ferenc |
|---|---|
| Dokumentumtípus: | Cikk |
| Megjelent: |
2013
|
| Sorozat: | APPLIED SURFACE SCIENCE
278 No. 0 |
| doi: | 10.1016/j.apsusc.2013.02.135 |
| mtmt: | 2356333 |
| Online Access: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18190 |
Hasonló tételek
-
Promotion and inhibition effects of TiOx species on Rh inverse model catalysts
Szerző: Deák László, et al.
Megjelent: (2014) -
The formation and stability of Rh nanostructures on TiO2(110) surface and TiOx encapsulation layers
Szerző: Deák László, et al.
Megjelent: (2013) -
Thickness distribution of carbon nitride films grown by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2005) -
Atomic force microscopic characterization of films grown by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2006) -
Inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2008)