Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition

Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Égerházi László
Smausz Kolumbán Tomi
Bari Ferenc
Dokumentumtípus: Cikk
Megjelent: 2013
Sorozat:APPLIED SURFACE SCIENCE 278 No. 0
doi:10.1016/j.apsusc.2013.02.135

mtmt:2356333
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18190
LEADER 00770nab a2200217 i 4500
001 publ18190
005 20200210112120.0
008 200210s2013 hu o 0|| zxx d
022 |a 0169-4332 
024 7 |a 10.1016/j.apsusc.2013.02.135  |2 doi 
024 7 |a 2356333  |2 mtmt 
040 |a SZTE Publicatio Repozitórium  |b hun 
041 |a zxx 
100 1 |a Égerházi László 
245 1 0 |a Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition  |h [elektronikus dokumentum] /  |c  Égerházi László 
260 |c 2013 
300 |a 106-110 
490 0 |a APPLIED SURFACE SCIENCE  |v 278 No. 0 
700 0 2 |a Smausz Kolumbán Tomi  |e aut 
700 0 2 |a Bari Ferenc  |e aut 
856 4 0 |u http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18190/1/fractalanalysis.pdf  |z Dokumentum-elérés  

Hasonló tételek