Atomic force microscopic characterization of films grown by inverse pulsed laser deposition
Elmentve itt :
| Szerzők: | |
|---|---|
| Dokumentumtípus: | Cikk |
| Megjelent: |
2006
|
| Sorozat: | APPLIED SURFACE SCIENCE
252 |
| doi: | 10.1016/j.apsusc.2005.07.083 |
| mtmt: | 155801 |
| Online Access: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18152 |
| Terjedelem/Fizikai jellemzők: | 4661-4666 |
|---|---|
| ISSN: | 0169-4332 |