Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel
Elmentve itt :
Szerző: | Gárdián Anett Zsuzsanna |
---|---|
További közreműködők: |
Tóth Zsolt
(Témavezető) Füle Miklós (Témavezető) |
Dokumentumtípus: | Szakdolgozat |
Megjelent: |
2013
|
Tárgyszavak: | |
Online Access: | http://diploma.bibl.u-szeged.hu/48458 |
Hasonló tételek
-
Lézerrel kezelt szilícium felületek, valamint impulzuslézeres rétegépítéssel előállított amorf szilícium és SixC vékonyrétegek ellipszometriai vizsgálata
Szerző: Hanyecz István
Megjelent: (2015) -
Szilícium felületek lézeres kezelésének vizsgálata spektroszkópiai ellipszometriával
Szerző: Turóczi Zsolt Albin
Megjelent: (2018) -
Impulzuslézerekkel módosított szén és szilícium felületek vizsgálata Raman-spektroszkópiával és ellipszometriai módszerekkel
Szerző: Csontos János
Megjelent: (2019) -
Színes nyomtatott felületek spektroszkópiai vizsgálata
Szerző: Oláh Gábor
Megjelent: (2010) -
Lézerrel kezelt csont kémiai változásainak vizsgálata Raman spektroszkópiával
Szerző: Gera Antónia
Megjelent: (2022)