APA citáció

Süli Árpád & Michailovits Lehel. (1972). C.P.D. measurements on oxidized silicon surfaces.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Süli Árpád and Michailovits Lehel. C.P.D. Measurements on Oxidized Silicon Surfaces. 1972.

MLA idézés

Süli Árpád and Michailovits Lehel. C.P.D. Measurements on Oxidized Silicon Surfaces. 1972.

Figyelem: ezek az hivatkozások nem 100%-ban pontosak..