An addition to the methods of test determination for fault detection in combinational circuits
We propose a procedure for determining fault detection tests for single and multiple fault in combinational circuits. The stuck-at-fault model is used. By the proposed procedure all test vectors for single and multiple stuck-at-fault in combinational circuit are determined. The path sensitization me...
Elmentve itt :
Szerző: | Cvetković Ljubomir |
---|---|
Dokumentumtípus: | Cikk |
Megjelent: |
2004
|
Sorozat: | Acta cybernetica
16 No. 4 |
Kulcsszavak: | Számítástechnika, Nyelvészet - számítógép alkalmazása |
Tárgyszavak: | |
Online Access: | http://acta.bibl.u-szeged.hu/12740 |
Hasonló tételek
-
Short-circuited k-trees
Szerző: Pávó Imre
Megjelent: (1976) -
Test suite reduction for fault detection and localization A combined approach /
Szerző: Vidács László, et al.
Megjelent: (2014) -
On fault tolerant L-processors
Szerző: Gross S. R.
Megjelent: (1981) -
FaultBuster An Automatic Code Smell Refactoring Toolset /
Szerző: Szőke Gábor, et al.
Megjelent: (2015) -
Uniform test selection method [abstract] /
Szerző: Bohus Mihály
Megjelent: (1998)